One ClickTM一键称量在负极片成型研试系统中应用

实验与分析 0 2021-04-14

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负极片作为高性能能量供给部件之一,由银网和膏体压片成型,活性物质与网栅及集流片接触紧密,减小电子的移动距离,降低极片的厚度,增加装填量,提高电池体积的利用率.

负极片作为高性能能量供给部件之一，由银网和膏体压片成型，活性物质与网栅及集流片接触紧密，减小电子的移动距离，降低极片的厚度，增加装填量，提高电池体积的利用率，从而提高电池的容量。压片厚度太厚时，容易使电池内活性物质量减少，单位体积的活性物质量的减少和极化电位的增大，从而造成电池的容量降低。压片厚度太薄时，容易造成电池内的活性物质量增加，极片表面有效面积减小，从而造成活性材料的浪费和大电流的困难。

为了准确了解和掌握极片的涂膏量，必须进行相应的称量，步骤如下：称量银网质量A和同一银网成型后极片质量B，通过公式(B-A)就能计算出所涂膏体的质量(此处忽略外包薄膜的质量)。操作人员通过天平上加装的RS232扩展卡连接扫描枪，即可对银网ID标识进行读取：它能非常高效地一次性读取上百片银网和成型极片的ID并进行关联。通过天平软件，天平自动对两次称量的数据进行处理计算，并将最终数据与银网标识自动一一对应起来。这样同一批次的多个样品间称量顺序则不再重要了。最后通过天平软件，可以输出PLC控制系统所识别的数据格式，用于对产品的生产进行控制。

繁琐的操作步骤，落后的质量管理

对于一次质量检验，需要进行至少两次的称量，并由质检人员手工将数据录入Excel表格，在获得最终实验结果后再交给PLC控制系统。这些繁琐的质量控制过程对于质检人员来讲是非常麻烦和痛苦的：他们每天都需要进行大批次的称量任务，同时还必须关注整个质检过程，保证不出现错误。这不仅无法提高工作效率，而且一旦数据录入错误，就无法提供可追溯的结果，导致最终质量控制的失败。此外，如果每批都需要进行多个样品的实验，那么更容易出现样品与称量值无法正确匹配，导致实验结果出现错误。

这一个又一个操作过程中面临的问题有：如何提高工作效率，降低质检人员的劳动强度?如何关注SOP流程，确保数据录入的安全和准确?如何进行自动化的质量管控?这些都是生产管理者需要考虑的。

安全准确的结果记录

梅特勒-托利多One ClickTM一键称量解决方案(结合梅特勒-托利多Excellence精密天平XP203、天平RS232扩展卡、LabX2010软件和BarcodeScanner)，帮助客户实现安全准确的结果记录和生产质量管控。

LabX2010 Balance软件安装在实验室或办公室电脑上，通过RS232或者以太网接口与天平进行连接。管理人员可以根据其公司内部的操作规程非常简单方便地制作出称量环节的SOP。

实验员只需轻轻点击XP203精密天平上的触摸屏，就可以启动称量任务。所有操作步骤以及提示信息在天平触摸屏上显示，一步一步地指导实验员完成整个实验过程。同时，称量数据将会自动传输至LabX2010软件，并按照SOP规定的质量计算公式(B-A)自动计算结果，保证实验员始终专注于实验过程，无需考虑结果记录及计算错误的可能。

对于同批多个样品，One ClickTM一键称量解决方案还可以通过样品ID对样品加以区分，并且将ID号和实验数据相互关联，实现样品与数据的完美匹配。此外，所有数据都会自动存储在LabX2010软件内置的SQL数据库中，您可以使用普通A4打印机，随时输出符合GxP规范的实验报告;或者将数据库中的所有实验数据以文本形式输出，方便后端控制设备读取并控制使用。

完美的天平管理

对于电子行业客户来说，如何进行天平的日常校正和测试，确保始终获得准确的称量结果，也是品管经理面临的又一难题。LabX软件内置软件模块，可对单个砝码或砝码组进行测试和校正;可定时启动任务提醒实验员执行天平的测试和校正。同时，管理人员可以对所管理的天平设置多个用户管理权限，从而严格监控天平使用的状态。所有天平信息都将被记录，并且可以随时调阅。

强大的系统集成和认证功能

由于LabX2010软件支持模块化的架构，可根据实际应用灵活选择配置。例如，用户可以根据需要，选择系统集成模块，这为在LIMS或ERP系统中整合LabX2010或者LabX2010的API函数提供了可能，也使得实验室对软件统一管理更为便捷。如果用户需要，LabX2010还支持CFR21.11的兼容和对用户的软件认证。

此外，梅特勒-托利多One ClickTM一键称量更可以提供网络版解决方案，使每台电脑最多可与网络中的30台天平进行数据交互。

梅特勒-托利多One ClickTM一键称量解决方案，帮助您实现简便的数据采集、全面的用户向导，在提高您工作效率的同时实现无误差的结果记录与计算!

内容来源：梅特勒-托利多

责任编辑：展源

审　　核：何发