2019年10月23日，安捷伦科技公司推出了全新一款Agilent 5800电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)，5800 ICP-OES在光学性能上做了巨大的创新，实现了性能的提升。此外，强大的传感处理系统，结合智能算法和诊断功能，使新一代的ICP光谱更加智能化，能够实现自我诊断和故障预警排除、主动维护，以及识别可能影响结果的潜在问题，助你夺回浪费的时间。

　　安捷伦成立于1999年，在美国西部太平洋沿岸的加利福尼亚州，前身是美国的著名仪器设备公司惠普。早在安捷伦成立之前，它的仪器设备就已经进入中国，并成功地赢得了国内用户的青睐，在中国40多年的发展风雨历程里，安捷伦与中国用户一起成长，并见证了中国检测行业的发展变迁。

　　此次安捷伦携新款5800 ICP-OES亮相BCEIA2019，本文记者就新型Agilent5800 ICP-OES的产品性能、使用情况，以及现在光谱技术的进展问题与安捷伦副总裁光谱及真空产品总经理Philip Binns先生、原子光谱产品经理黄传旭先生、安捷伦原子光谱高级应用工程师欧阳昆先生，以及中国仪器仪表学会原子光谱应用与技术专业委员会主任委员清华大学的邢志老师和北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员进行交流、讨论。

　　采访开始前，安捷伦科技大中华区光谱产品经理黄传旭先生对安捷伦光谱仪的发展历程、应用领域等内容进行了全面系统的阐述。安捷伦资深应用工程师欧阳昆先生向到场嘉宾详细介绍了本次发布的新产品5800 ICP-OES的技术特点及创新之处。

安捷伦科技大中华区光谱产品经理黄传旭先生

深刻样品洞察，避免无谓时间浪费

　　据调查显示：造成实验室时间浪费的主要环节就是样品重测，有15%的ICP-OES样品需要被重测，很多实验室都面临重复测量，这会消耗很多资源，降低效率。新款5800根据强大的智能特性能够有效地减少需要重测的样品数量，同时保证分析结果的精准、可靠。

　　您身边的分析专家

　　以往实验室新人在使用ICP-OES检测样品的时候，都会有一个经验丰富的“老师傅”在旁边指导：什么时候该消解、该选择什么谱线、什么样的结果是正确的、仪器发什么了什么故障及该如何解决等等，然而现在，很多实验室都因为分析人员的经验缺乏或人员流失造成对分析结果可靠性的降低和大量重复测试工作。 这些都大大降低了实验室人员的工作效率。5800就像一个经验丰富的“老师傅”，它可以智能识别光谱干扰并推荐最佳谱线、同时检测出样品中70多种元素的浓度并对每一样品进行质量控制、识别样品的前处理错误，以及标记异常结果等等，时刻在你的周边为你的是实验保驾护航，并助您作出专家级分析结果。

　　智能化监控体系

　　5800是现在市面上唯一一台在里面安置了超过100多个传感器的OES，将智能化软件交互界面、数据库与传感器等硬件相结合，组成智能化监控系统，能够实现自我诊断和故障预警排除、主动维护，以及识别可能影响结果的潜在问题。这是具有里程碑意义的创新。在5G的时代下，强大的硬件已经不是安捷伦考虑的唯一，智能将是下一个时代的选择。

　　智能工具

　　自动光谱干扰鉴别、样品元素组分饼图，周期表热图等一系列智能工具，可实现使用者对样品的极大洞察力，针对每一样品获得更加有效地数据追踪和质量控制，最大程度上减少用户因样品重复测试所花费的大量时间。

　　Agilent 5800 ICP-OES

　　采访部分：

　　实验与分析：安捷伦早在2010年就开始了光谱领域的创新研发工作， 请介绍一下安捷伦ICP-OES产品的发展历程 吗 ？    

　　Philip Binns： 安捷伦 ICP-OES技术都是有延伸性的，后面的仪器继承、发扬前面仪器的创新技术。2014年，安捷伦推出了 Agilent 5100 ICP-OES，5100是安捷伦具有划时代意义的仪器。5100有两大创新点：第一，它可以同时观测水平和垂直信号。其实很多仪器必须检测多次，才能获得全部检测信号。5100只需要采集一次，就可以把垂直和水平的信号同时采集，这是安捷伦的创新型技术。

　　另外，垂直炬管双向观测。原来双向观测的ICP-OES，炬管都是都是水平设置的，而水平炬管基体耐受性较差，越来越难满足用户需求。5100是第一个让双向观测ICP-OES的炬管竖起来的仪器。我们当时认为“垂直双向观测”的ICP-OES在未来一定是个趋势。到现在垂直炬管双向观测已经成为大家的共识，目前几乎所有厂商的ICP-OES都推出了垂直炬管双向观测的产品，因为它解决了客户原来灵敏度和高基体不能平衡的这个问题。

　　今天安捷伦推出的5800，主要有两个主要创新点：一个是性能的提升。5800配备了自由曲面的光学准直镜的专利技术。这是一个全新的技术，可以解决原来ICP-OES的很多问题，比如检测器边缘效应等问题，会改善检出限。第二个是5800内置众多传感器，将智能化软件交互界面、数据库与传感器等硬件相结合，实现智能化监控系统的功能。这是具有里程碑意义的创新。

　　实验与分析：现在的 用户 对产品 硬件上的关心 远远不如它能解决哪些 问题 的关心 。 那么，您能简单地介绍一下新型5800 ICP-OES 能够 帮助 用户解决工作流程中的 哪些 具体问题 吗 ，能不能举两个实际的例子？    

　　Philip Binns： 不同的客户对仪器诉求是不一样。两个比较具体的例子，现在第三方检测机构特别多，绝大部分在规模上都是中小型，运行状况也都是处于起步阶段，有一个特点就是技术人员流失严重，因此导致检测人员经验缺乏。为了帮助客户对实验结果的确认建立信心，5800会提供更多关于样品或仪器的信息。对如雾化器或炬管等部件因高盐等原因造成堵塞等问题提前预警，提醒用户主动维护，保证数据准确。关于样品本身，可以针对不同样品，进行所有元素半定量分析，以及实现智能光谱干扰识别，自动推荐最佳谱线等功能。

　　第二个例子关于未知样品方法开发的问题。很多客户对未知样品基质和干扰等信息不了解，增加了方法开发的困难。含有不同基体的样品，如何选择正确的波长。5800 ICP-OES同样可以帮您解决这一问题，5800可以智能地，自动识别并评估光谱干扰等因素，从而获得更高级别的样品洞察，针对波长进行星级选择排序，从而为您推荐最佳波长。

　　实验与分析： 新品 5800 ICP-OES 有没有什么侧重的领域？    

　　Philip Binns：5800在安捷伦比较核心的市场，环境、食品、材料，以及能源化工都有应用，简单来讲，它是服务于比较宽的领域。

　　对于侧重点，可以用另外一个角度来讲，对高通量、低成本、样品复杂的实验室，5800是最理想的选择。首先，客户希望实验省时省力，或者避免人员出错;其次，客户希望降低实验成本;最后，有些样品特别难做，基体很复杂，客户希望可以精准、有效地得到检测结果。

　　实验与分析：5800 ICP-OES 有没有价格优势和竞争力？    

　　黄传旭：安捷伦也一直在和用户们探讨什么样的价格是合理，会发现不需要的东西一块钱都不合理，关键在于这个东西对我们来讲是否有价值。安捷伦在ICP-OES市场的占有率一直是名列前茅的，因为安捷伦的关注点是性价比，安捷伦自始至终都不是靠价格取胜的，靠是价值。我们始终坚信一点：只要你给客户足够的价值，客户自然会去认可你的价格。

　　实验与分析：请问 安捷伦如何看待中国用户的需求 ？ 中国用户和国外用户有哪些在需求上的异同，安捷伦如何更好地满足这些需求？    

　　Philip Binns： 我们做了很多全球性的调研。其实，不同地方客户的需求很相近，并不存在巨大的差别。差别是出现在不同的应用领域，比如矿产检测与环境的差别，在不同领域里面是存在差别的。以中国环境检测领域为例，近年来，中国的环境第三方检测机构或者是环境监测站增长速度特别快，但是，相比国外的环境检测来说，国内环境检测起步比较晚，经验相对缺乏。安捷伦会更关注要提供什么样的产品让这些客户实验室快速、高效地运转起来。

　　反过来中国也有许多领域额发展史走在世界前列的，比如说半导体在线检测，而国外半导体检测的很多技术、方案是在国内摸索出来的，许多国家几乎没有这方面的行业。这一方面的需求是是中国特有的，因此，安捷伦会专门做一些针对中国国内客户的方案，例如检测方案、培训的方案或者客户使用的方案等等。像前面所说的那样，我们会从应用领域入手，分别满足国内外用户的不同需求。

　　实验与分析 ： 请对新款5800 ICP-OES 进行 一下点评。    

　　邢志： 5800用一个自由曲面的光学设计有效消除了检测器边缘效应和像散效应，光通量和检出限都得到了改善，这会对我们今后的工作带来很大的帮助。

　　另外我很高兴看到这个仪器智能化的创新。往往在我们做土壤等样品分析的时候，要做铅、铁检测，但样品中不仅含有铁和铅，还共存大量其他元素。如果软件可以对复杂样品干扰进行自动识别，并准确的推荐最佳波长，这样会在数据可靠性以及分析效率方面有很大的提升。

　　冯先进： 这款仪器最大的亮点就是光学系统的改进，再一个亮点就是预警系统。它可以提前对仪器的故障进行判断，而不是像过去那样等到仪器坏了或者检测到数据异常，再来找原因进行故障诊断，会节省了很多成本。

　　初步智能化，在2009年中国科学发展年会上，就说到了ICP光谱的发展方向，我认为会向着小型化、智能化方向发展。在今天很高兴看到了初步智能化。我相信5800会给我们的工作提供巨大的帮助。

　　媒体交流现场

　　安捷伦副总裁兼光谱及真空产品总经理Philip Binns先生(左一)、原子光谱产品经理黄传旭先生(左二)、安捷伦原子光谱高级应用工程师欧阳昆先生(左三)，以及中国仪器仪表学会原子光谱应用与技术专业委员会主任委员清华大学的邢志老师(右一)和北京矿冶研究总院测试研究所冯先进研究员(右二)